电话:400-861-5117
品牌:上海天辰
型号:XD-1068/XD-1069/XD-1070/XD-1071/XD-1072
TP6100/TP6200/TP6300
产地:美国
品牌:福禄克过程
主要技术参数:TP6系列数据记录器Fluke Process Instruments 生产的专用分析系统采用 Datapaq TP6 和 Datapaq DP5 数据记录器、数百种特定应用隔...
市场价:¥0
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PSS BERT19881
产地:中国大陆
品牌:普赛斯
主要技术参数:产品概述普赛斯400G高速误码测试系统(PSS BERT19881)是一款针对于多通道PAM4和NRZ应用的高速信号误码性能分析仪,最高支持8x56Gb/s PAM4...
PSS BERT18881
主要技术参数:产品概述普赛斯200G高速误码测试系统(PSS BERT18881)是一款200G高速信号的误码性能分析仪,支持9.95G---15G,24.33G---32G内任意选择速率...
DP5640/DP5600/DP5642
主要技术参数:DP5系列数据记录器Fluke Process Instruments 的 Datapaq 玻璃钢化与弯曲高温炉跟踪系统采用 Datapaq DP5 数据记录器,我们的 TB7...
PSS BERT17442
主要技术参数:产品概述普赛斯100G高速误码测试系统(PSS BERT17442)是一款100G高速信号的误码性能分析仪,支持10G-32G速率,4路PPG,4路ED收发端信号可以...
PSS BERT15441
主要技术参数:产品概述普赛斯40G误码高速仪支持四路622M-15G高速信号的误码性能分析仪。BERT15441主要功能是测量高速通信模块的性能,提供四个可独立工作...
PSS BERT13441
主要技术参数:产品概述普赛斯15G误码高速仪支持622M-15G高速信号的误码性能分析仪,BERT13441支持XFP、SFP+光接口及两路电发电收共四路高速信号。 能够...
PSS BERT11221
主要技术参数:产品概述普赛斯2.5G误码高速仪支持125Mbps-4.25Gbps高速信号的误码性能分析仪,BERT11221支持SFP接口光发光收及SMA接口电发电收共两路高速...
TP6116/TP6116-TM/TP6216/TP6216-TM
主要技术参数:TP6系列高温炉跟踪仪Fluke Process Instruments 生产的用于金属热处理的 Datapaq 高温炉跟踪仪采用 Datapaq TP6 数据记录器、可选...
PSS MBS12016/22016/32016
主要技术参数:产品概述普赛斯光模块集成式老化系统(PSS MBS12016/22016/32016)用于光模块的老化筛选以及可靠性分析。该系统提供3~4V恒压以及最高120℃...
PSS LRS-TEC-800
主要技术参数:产品概述普赛斯大功率TO抽屉式老化系统主要用于大功率激光器在一定温度条件下进行加电老化,不同的老化抽屉可满足不同封装激光器(如TO9,T...
VICTOR 825A
品牌:胜利仪器
主要技术参数:电磁辐射测试仪成功的将电场辐射、磁场辐射兼容测试并达到不错的测试效果,用于测试并了解室内室外环境的电磁辐射现状。
PSS LDBI3072-TO56-P
主要技术参数:产品概述普赛斯LD集成式老化设备,用于小功率可见光LD TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析,筛选后有效提高TO产品的质量。系统可支持3072...
PSS LRS-BI-S640
主要技术参数:产品概述普赛斯大功率窄脉冲抽屉式老化系统主要用于Lidar 激光器在一定温度条件下进行脉冲加电老化,不同的老化抽屉可满足不同封装的Lidar...
PSS APDBI-IV
主要技术参数:产品概述普赛斯APD台式老化监控电源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件,提高器件的品质。该系统通过给APD...
PSS ATLD-VI
主要技术参数:产品概述硬件支持小电流和大电流两个档位,完美兼容VECSEL和FP/DFB激光器 64路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化不同工位直接的转料...
PSS APDBI13002
主要技术参数:产品概述APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选,最多支持3072pcs的单次老化。该...
PSS EMLBI11536/21536
主要技术参数:产品概述普赛斯EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化,通过外部环境控温...
PSS LDBI13003
主要技术参数:产品概述LD集成式老化系统,用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动...
PSS COCBI系列
主要技术参数:产品概述普赛斯COCBI老化系统为高功率COC老化系统,支持大电流、窄脉冲加电老化,用于COC芯片在高温,稳定电流条件的长时间可靠性实验,支...