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MCS CCD UV-NIR/MCS FLEX CCD UV-NIR/MCS PDA UV-NIR/ MCS FLEX PDA UV-NIR
产地:中国大陆
品牌:卡尔蔡司
主要技术参数:MCS系列光谱仪MCS UV-NIR在190 - 1100 nm的光谱范围内具有优异的性能。由于具有不同的光学入口和外壳设计,它能够灵活作业,不同的探测...
市场价:¥0
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CYGUS
主要技术参数:CYGUSCMOS光谱仪CYGUS是蔡司新推出的高性能CMOS光谱仪系列,覆盖190 - 1100 nm的光谱范围。它在CMOS探测器选件中提供了高通用性,并具备...
CGS CCD UV-NIR/CGS PDA UV-NIR/CGS CMOS UV-NIR/CGS CMOS UV-NIR/CGS CMOS UV-NIR
主要技术参数:CGS系列紧凑型光栅光谱仪高性能紧凑型CGS UV-NIR覆盖190 nm至1100 nm光谱范围。它小巧紧凑,可以直接融入线边、线上和在线过程, 而且...
ThinProcess®
主要技术参数:ThinProcess®过程监控软件使用ProcessLinker,您可通过数据可视化以及与更高级别控制系统的通信,密切关注工艺信息和参考值, 将数据以文...
MCS 700
主要技术参数:MCS 700坚固耐用的VIS-NIR光谱仪我们完善的VIS-NIR光谱仪解决方案可针对各种应用进行配置,从而在批量和在线生产过程中测量膜层特性。轻松...
ThinProcess®系列
主要技术参数:ThinProcess®系列在线监测光谱仪系统蔡司ThinProcess®是一种端到端的解决方案,能够以实验室级精度控制和监测大面积镀膜工艺的质量。Thin...
AURA®
主要技术参数:AURA®手持式NIR蔡司AURA®手持式NIR是功能强大的便携式光谱技术解决方案。您可以在田间使用它测量样品,其在各种环境中的稳健性能和准确结...
Corona® extreme
主要技术参数:Corona® extreme光谱仪您需要依靠生产不断交付产品, 而这同样适用于您的光谱仪。无论工作环境多么恶劣,蔡司Corona® extreme都能顺畅...
Corona® process
主要技术参数:Corona® process全能型光谱仪蔡司Corona® process是一款可满足您所有测量需求的光谱仪系统。它凭借扩展的波长范围可以同时测定成分和颜...
FTIR-850
品牌:沈阳科晶
主要技术参数:FTIR-850是公司经过改进和创新,推出的新款傅里叶变换红外光谱仪,仪器性能显著提高。
FTIR-650/FTIR-650G
主要技术参数:FTIR-650/FTIR-650G是国内具有自主知识产权的傅里叶变换红外光谱仪,具有性能稳定、操作简便、使用寿命长、维护成本低等特点,其产品性能及主要技术指标均已达到国际同类产品水平。
AFS200系列
品牌:天瑞
主要技术参数:AFS200系列双道原子荧光光谱仪是天瑞仪器公司集多年技术积淀,为用户精心打造,具备完全自主知识产权的分析仪器。
OES8000S
主要技术参数:火花全谱直读光谱仪OES8000s采用CMOS检测器全谱测试技术,可测试覆盖波长范围内的所有谱线,配置和补充测试基体、通道、分析程序极为方便。
OES 1000
主要技术参数:OES1000(贵金属专用) 火花光电直读光谱仪特别适用于测定黄金产品中微量元素的含量,天瑞仪器火花光电直读光谱仪的快速测试使研发、生产过程和质量更可控
ICP 3200
主要技术参数:ICP3200全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪是天瑞仪器继ICP3000成功推出后,推出的又一款全新概念、极具创新的双向观测ICP-OES,融合最新智能光路切换技术、谱线深度处理技术,可实现基于双向观测的定量与定性分析处理
ICP 2060T
主要技术参数:ICP2060T电感耦合等离子体发射光谱仪特别适合用于测定各种石化产品中常量、微量、痕量元素的含量。
WDX200
主要技术参数:WDX-200小型多道X射线荧光光谱仪可配置10个固定分光道,可同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U的任意十种元素。
WDX400
主要技术参数:WDX-400型多道X射线荧光光谱仪可配置10个固定分光道,同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U 任意十种元素。标准配置为Na、Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Fe、P或Ti(可选)十种元素,是大中型企业质量控制的理想选择。
WDX 4000
主要技术参数:WDX-4000 是江苏天瑞仪器股份有限公司,在国家重大科学仪器设备开发专项(项目编号:2011YQ170065)资金支持下,融合科技创新和发明,推出的国内首台商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪。
EDX 2000A
主要技术参数:EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。