日立台式XRF分析仪 FT230-宜器服务网

产品详情

FT230 台式XRF分析仪

FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间，因此推出了一个有着突破性的分析仪，其可以有效地 "设置 "自己，使得在过程中可以分析更多的零件。

自动化和创新软件是FT230分析仪的特点。智能识别模块，如Find My Part™（查找我的样品），意味着操作者只需装载样品，确认零件，FT230就会处理其余的事情。它将在您的部件上找到正确的测量位置--即使是在大型基材上--选择正确的分析程序并将结果发送到您的质量系统。减少了时间和人为的错误，使得你可以在更短的时间内完成更多的分析，使100%的检查在繁忙的生产环境中更加现实。

产品特点
自动聚焦减少样品装载时间
Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
屏幕大部分区域用来显示样品视图，令人眼前一亮的可视度
自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据
由于采用了新的用户界面，非专业人员也能直观、方便地使用。
功能强大，可同时测量四层镀层也可分析基质
经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准
帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求

FT230 技术参数

	FT230 台式 XRF 分析仪
元素范围	铝 (13) - 铀 (92)
探测器	硅漂移探测器 (SDD)
样品台设计	开槽和闭合
XY 样品台设计	电动或固定
XY 样品台行程	250 x 200 mm
电动Z轴行程	205 mm
最大样品尺寸	500 x 400 x 150 mm
直准器数量	4
焦点激光	包含在标准配置内
自动对焦	可选
广角摄像机	可选
距离无关测量	可选
Find My Part™ 智能识别功能	可选
镀层测量	✔️
RoHS 筛查	✔️
软件	FT Connect

分析	详细内容
X射线管	钨（W）靶微焦点X射线管，自上向下照射式，最大50 kV，1000μA，50 W
探测器	高分辨率, 大面积50 mm2 SDD
初级滤波器	5个初级滤波器（2种铝膜、钛膜、钼膜、镍膜）+ 1个无滤波器位
准直器	4个准直器，有长圆形和圆形两种可供选择，尺寸范围为从0.01 x 0.25 mm到1 mm（0.5 x 10 mil到40 mil）
元素范围：	铝（13）-铀（92）
层数	最多5层（4层加基底）
可选元素	自由选择
大气补偿	自动温度和压力补偿
气路	空气
规范	能量色散X射线荧光测量镀层符合ASTM B568、DIN ISO 3497

软件	详细内容
用户界面	FT Connect
标准功能	镀层分析（FP和经验分析）、体相材料成分分析（FP和经验分析）、多点编程、定性模式、数据历史、诊断、ExTOPE云链接密码保护、多级访问控制软件
智能识别功能	“查找我的零件”（机器视觉、二维码/条形码扫描、文本查找）、“查找我的模式”（机器视觉）
语言	简体中文、繁体中文、捷克语、英语、法语、德语、意大利语、日语、韩语、葡萄牙语、俄语、西班牙语
PC规格	Windows 10 64位 PC

样品定位	详细内容
最大样品尺寸	500 x 400x 150 mm (19.7x 15.7x5.9")
样品台行程	250 x 200 mm(9.8x7.8")
样品台尺寸	900 x 600 mm (35.4x23.6"")-电动样品台,开槽样品室 270 x 210 mm (10.6x8.2"")-电动样品台,密闭样品室 540 x 540 mm(21.2x21.2"")-固定样品台
样品台速度(电动配置)	80mm/s(3.1"/S)
样品台精度(电动配置)	≤5μm(0.002")
最大样品重量	10 kg（22 lb）- 固定样品台 5 kg（11 lb）- 电动样品台
z轴行程	205 mm (8")
工作距离	5 mm（0.2""）- 标称，聚焦激光器 5至67 mm(0.2至2.6""）-自动对焦/自动接近（可选）
样品台,Z轴控制	软件控制和带启动按钮的三向操纵杆(可选)
聚焦	激光聚焦（一类激光产品）、距离无关测量/自动对焦（可选）、工作距离自动接近（可选）
视野(摄像机)	7.1x5.3mm(0.28x0.2")
视野(广角摄像机,可选)	250x200mm(9.8x7.8")
定位辅助	定位激光、预定位激光(电动样品台配置)

日立 台式XRF分析仪 FT230

日立台式XRF分析仪 FT230