产品介绍
TH760、TH761、TH762、TH764数字式液晶智能显微维氏硬度计在材料工艺和产品检验领域中,用于薄材料和细小零件的硬度,如钟表、仪器、仪表的零件;在集成电路板及通讯仪器领域用于材料特性检验,及其他方法所不能及的小件、薄片、脆硬件以及相夹杂、镀层的硬度;在金属学、金相学中用来测定金属组织中组成相的硬度,借以鉴定合金相的类别和属性;在机理研究方面还用于研究晶内偏析、时效扩散、相变、合金状态图、合金化学成分不均性研究,也应用于研究难熔化合物的脆裂倾向性值。TH762、TH764双压头系列产品,由于增加了努氏硬度的测量,扩大了设备的范围,能测单压头所不及的特薄、脆、硬的材料镀层以及陶瓷、玻璃、玛瑙等宝石材料。本系列主要用于材料研究所、航天、军工、特检、大学、海关检验检疫、国家级大型企业、跨国企业以及对质量要求严苛的机构。
产品特点
全数字化控制电动加、保、卸载、测试系统。
高精度跟踪定位自动转塔系统、自动完成物镜-压头-加载-保载-卸载-物镜的转换过程。
内置光学系统,像质特别清晰,尤其观察金相组织。
LED冷光源,亮度PWM调节,设有自动熄灭保护。
HV转换HRC、HB。
设有状态和数据记忆功能,关机或断电后重新打开可恢复原状态测量,免调零。
软件内设有自诊断系统,监视设备运行,遇到故障代码发出报警。
无须改造可升级为半自动显微硬度计系统。
TH762、TH764将维氏压头、努氏压头、40×物镜、20×物镜安装在同一转台,实现自动转换、独立完成HV、HK硬度测量,不仅提高效率,且又降低成本。
可配以微型打印机。
根据特殊要求可满足最小加载载荷5gf(特薄薄膜硬度测量),可配60×物镜测量(高硬度材料测量)。
技术参数
项目 | TH760单压头 | TH762双压头 |
测试载荷 | 98.07mN、245.2mN、490.3mN、980.7mN、1961mN、2942mN、4903mN、9807mN 10gf、25gf、50gf、100gf、200gf、300gf、500gf、1000gf | |
加载方式 | 直接数字控制,自动完成加、保、卸载试验 | |
保压时间 | 1-99s任选 | |
载物台 | 手动,尺寸110mm×110mm,移动量25mm,最小移动量0.01mm | |
样品最大高度 | 90mm | |
样品最大深度 | 120mm | |
数字式目镜 | 电子型10×,基准零线和瞄准线(手动驱动),数显分辨率0.03µm,最小分度值0.1µm,D1、D2测量方式为手动转动测量目镜 | |
物镜倍率 | 10×、40× | 20×、40× |
压头 | HV | HV、HK |
测量 | HV | HV、HK |
硬度值转换 | HV转HRC、HBW | |
硬度值范围 | 5-3000HV | |
光源 | LED冷光源 | |
显示面板 | 数据显示:d1、d2、HV(HK、HRC、HBW)、COUNT(测量次数计数)、LOAD(载荷)、DWELL(保荷时间) 状态显示:d1、d2、HV、HK、HRC、HBW、光源、打印、光路40×物镜、10×物镜、20×物镜、压头位置、失电数据保持(记忆)、通电恢复 | |
通讯接口 | RS232并行口、打印机接口 | |
数据打印输出 | 测量数据及数理统计:最大值、最小值、偏差值、平均值、均方差 | |
光路转换 | 手动拉杆 | |
精度 | 符合JJG151-2006、GB/T4340、日本标准JISB-7734、美国标准ASTME384、国际标准ISO6507 | |
摄像装置 | 随时可以安装在设备的顶部(摄像头选配件) | |
电源 | 220V 50Hz 60W | |
产品规格 | 尺寸:395mm×250mm×490mm;重量:43kg |
标准配置
项目 | TH760 | TH762 |
X-Y工作台 | 1个 | |
精密平口钳 | 1个 | |
物镜 | 10×、30× 各1个 | 20×、30× 各1个 |
压头 | HV1个 | HV、HK各1个 |
标准硬度块 | 700-800HV1、400-500HV0.2各1个 | 700-800HV1、400-500HV0.2、700-800HK0.2各1个 |
电子式测微目镜(10×) | 1个 | |
水平仪 | 1个 | |
保险丝(2A) | 3个 | |
辅助工具 | 5个 | |
仪器防尘罩 | 1个 | |
附件箱 | 1个 |
可选配件
物镜(60×)、微型打印机、摄像头