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3240-Q
3240-Q

台湾chroma 无线射频分类机 3240-Q

品牌名称:台湾Chroma

产品型号:3240-Q

产品规格
产品介绍
合成本效益的RF整合方案
客制RF隔离室和整合Tester安装
可调整测试间距至120mm
具有八个平行测试站点
支持的芯片尺寸从 3x3 mm 到45x45 mm
精确的定位能力
支援JEDEC和EIA料盘
渠道商
产品详情

3240-Q 无线射频分类机 

3240-Q是一台独特且创新、整合了射频和无线隔离室之自动分类机。此机台配置多达八个测试站点和独立的隔离作平行测试。 3240-Q具有顺畅的自动化测试,、精确的Pick & Place技术、弹性的多测点架构、高产能和低Jam Rate等优势,适用于射频和无线芯片测试。

3240-Q也可依据测试需求支持各种不同类型封装的芯片,具有自动送料/分料盘设计,3240-Q适用于JEDEC和EIA料盘规范,另有选配的加强温控的测试能力,可提供高达150℃之高温测试环境。

3240-Q-1.png

3240-Q-2.png


产品性能特点

  • 合成本效益的RF整合方案

  • 客制RF隔离室和整合Tester安装

  • 可调整测试间距至120mm

  • 具有八个平行测试站点

  • 支持的芯片尺寸从 3x3 mm 到45x45 mm

  • 精确的定位能力

  • 支援JEDEC和EIA料盘


技术参数

Model

3240-Q

Dimension (WxDxH)

1360 mm x 1390 mm x 1930 mm

Weight

900kg

 

Facility

Power : AC200V, Single phase   50/60Hz, 10 KVA Max. Compressed
Air : 0.5 MPa or higher (dray and clean air) Flow   Rate : 150 L/min, constant supply

 

Applicable Device

Type : CSP, BGA, Gull Wing Package

Package Size : 3 mm x 3 mm to 40   mm x 40 mm Package Height : 0.5 mm to 5 mm

Lead / Ball pitch : 0.5 mm / 0.4   mm and above

Category

3 categories (1 auto, 2 manual)

Applicable Tray

JEDEC or EIAJ

Index Time

4 sec.

Contact Method

Direct Contact / Drop and Press

Contact Force

Up to 50 ± 1 kgf

Test Site Configuration

4 sites, 2x2, Pitch X = 120 mm,
Y   = 120mm 8 sites, 4x2, Pitch X = 100 mm, Y = 120mm

PCB Same Site Isolation

-63dB

PCB Different Site Isolation

-91.5dB

Chamber Far Field Isolation

2.4GHz : -80dB @ Distance >250mm   (=2*λ2.4GHz)

Jam Rate

1/5,000

Interface

GPIB

Hot Temperature (Option)

Operating Range : Ambient ~ 125˚C   (Heating Time < within 30 min.)

Accuracy : Contact Head ± 3˚C, Pre-heater   ± 5˚C


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