德国LANGER-EMV E1抗干扰开发系统 E1 set

LANGER-EMV  E1抗干扰开发系统 E1 set 

简单描述

E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。采用E1抗干扰开发系统，能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因（薄弱点），使工程师开发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的 EMC措施，并且使用 E1 评估 EMC措施的效果。E1 检测设备的搭建空间小，适宜于在电子元件开发人员的工作场地使用。E1 用户手册对EMC工作机制以及集成电路板去干扰的基本测量策略作出详细描述。E1 组套包括一个脉冲群干扰和静电放电干扰发生器、九种不同的电场和磁场源、以及其他各类附件。

订购信息

1xSGZ 21, 脉冲群发生器 - 脉冲密度计数器

1xS21, 光学传感器（10 Mbps）

1xBS 02

1xBS 04DB, 磁场源探头

1xBS 05D, 磁场源

1xBS 05DU, 磁场源探头

1xES 00, 电场源探头

1xES 01, 电场源探头

1xES 02, 电场源探头

1xES 05D, 电场源探头

1xES 08D, 电场源探头

1xMS 02, 磁场探头

1xE1 acc

1xNT FRI EU

1xE1 case, System case

1xE1 m, E1系列 用户手册

主要技术数