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NSTAR-200

杭州远方光电 近红外光谱透反射性能测量系统 NSTAR-200

品牌名称:杭州远方

产品型号:NSTAR-200

产品规格
产品介绍
● 兼容反射和透射测量:反射测量d/8,SCI和SCE可选;透射测量为d/0几何;
● 附NPL溯源标准色板,溯源性好;
● 稳定性好,测量精度高,满足较低透反射率的深色样品测量。
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产品详情

NSTAR-200 近红外光谱透反射性能测量系统

NSTAR-200近红外光谱透反射测量系统集反射和透射测量功能于一体,用于测量材料的光谱反射率/光谱透过率,测量波段范围覆盖780-1600nm。系统应用远方公司多项专利技术,可快速精确测量近红外宽波段范围内光谱透反射率,系统测量灵敏度高,稳定性、复现性好,杂散光小,可满足较低透反射率的深色样品测量,主要用于各类材料研发实验室。


产品特点
● 兼容反射和透射测量:反射测量d/8,SCI和SCE可选;透射测量为d/0几何;
● 附NPL溯源标准色板,溯源性好;
● 稳定性好,测量精度高,满足较低透反射率的深色样品测量。

技术参数

型号

NSTAR-2000

测量几何

兼容透反射测量

波长范围

780nm~1600nm

波长准确度

±0.5nm

反射率范围

0-100%

测量重复性

0.2%

测量孔径

反射测量:Ф28mm    透射测量:Ф20mm

接口

USB

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