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日本日置HIOKI 3506-10 C测试仪

上传人:宜器服务网 | 下载次数:1次 | 资料大小:13.88 MB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2021-04-08 | 浏览次数:
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对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量

HIOKI 3506-10 C测试仪

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