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使用说明书-日本日置 3504-40 C测试仪

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来源:宜器服务网 | 下载次数:1次 | 资料大小:4.11 MB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2023-12-20 | 浏览次数:

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封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C

  • 高速测量2ms

  • 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断

  • 对应测试线,比较器功能/触发输出功能

  • 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试

  • 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试

  • 查出全机测量中的接触错误,提高成品率


此资料适用于以下型号

3504-503504-60


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