ECG-KOKUSAI 匝间短路检测仪 DWX-01A/DWX-05A/DWX-10

DWX-01A/DWX-05A/DWX-10 匝间短路检测仪

随着电子器械的高度化，被使用的线圈部品也变得越来越小型化高周波了。DWX是一种 适合各种电感线圈测试的仪器。此仪器搭载了高速开关的脉冲电源，采用高速·A/D取样 电路，成功的解决了目前较难的低电感线圈测试问题。

产品特点
成功的实现了目前较难的低电感线圈测试
随着电子器械的高度化，被使用的线圈部品也变得越来越小型化高周波了。DWX是一种 可以对应各种电感线圈测试的仪器。此仪器搭载了高速开关的脉冲电源，采用高速·A/D取样 电路，成功的解决了目前较难的低电感线圈测试问题。

通过阻抗分压提高了波形的准确度以及放电感应的强度
脉冲波形入力回路中，因为采用了高性能阻抗分压回路，所以能够得到清晰准确的波形，而且提高了波形判断能力以及放电检出感应度。
（＊和本社DW・DWS系列（不含F类型）比较，大大提高了检出感度。）

通过高速lOOMHz・8KPoint·取样实现了高感度，高精度的测试
高速A/D取样，可以准确的捕捉到低电感・线圈的极短脉冲应答的同时，而且8KPoint・取样的高精細数据判定，还可以确切判定微少芯波形。

应用了Laplacian算法的放电量检测，子窗口页面显示，清晰易懂
通过使用Laplacian演算的波形解析，抽取由高压脉冲产生的放电成分，并在每个图形的子窗口上直观，易懂显示放电测试。
8.4英寸・彩色TFT液晶画面，清晰可见

保留了原有的AREA,DIF-AREA,FLUTTER等短路测试判定功能
波形判定中有AREA判定（面积比较）・DIF-AREA判定（波形差面积比较）・FLUTTER量检出（放电量检出）・LAPLACIAN量量检出（放电量检出）的检查方法等多种组合，适用于各种线圈的测试试验。

Compact Flash Memory Card・插卡标准装备可以使标准波形无限扩张

匝间短路检测仪可以对线圈做到有效的，非破坏性测试。
其原理是将相同的脉冲电流传递给标准绕组（主线圈）和被测绕组（采样线圈），比较瞬态现象波形，并判断质量。瞬态波形，即在线圈中产生的减衰振动波形表示电感和Q，并且可以同时确定线圈的匝数差，层厚度，或确定材料的差异等等。施加更高的脉冲电压还可以从电晕放电中检测出绝缘缺陷。 换句话说，可以在非常短的时间内可以对线圈做各种检测

1.面积比较（AREA）

在指定的时间间隔内比较主设备区域的大小和样本的区域大小。 。
例图1 算出a-b区间的面积，判定它们之间差异大小。判定标准设为%，如果被测的物判定结果在所设范围内，即是良品。面积大小，大致与线圈中的能量损失成比例，根据损耗大小来判断。例如当样品线圈处于短路状态，损耗部分就会增大并且此结果可以显示出来。

2.波形差面积比较(DIF-AREA)

计算指定间隔内主设备和样本之间波形的不同部分的面积。
例图2算出a-b区间的面积，和标准面积（图1）相比较，根据其大小程度可以做出判定。判定标准设为%，如果被测的物判定结果在所设范围内，即是良品。波形差面积的大小，通过L值及损失程度大小的总和来显示。特别是L值变化有问题的时候，这个方法最有效。

3.电晕量比较判定（FLUTTERVALUE)

忽略波形差异，检测像图3的电晕放电等周波成分。
通过对任意指定部分的波形应用滤波处理来检测电晕分量，并且基于其幅度确定电晕分量。判定基准设定为整数值，如果被测的物判定结果在所设范围内，即是良品。

4.电晕量比较判定（LAPLACIANVALUE)

Laplacian是一种数字滤波方法，用于在图像处理中检测物体的边缘强度，与FLUTTER VALUE方法相比，能够使波形数据中隐藏的不连续性数值（即噪音）数据化，可以判断准确且易于理解的放电成份。

5.线圈绝缘破坏电压测试功能
(ImpulseBreakeDown Starting Voltage Test :BD V test)

对被测试线圈逐渐施加电压的同时，通过AREA以及Laplacianl进行绝缘破坏判定，临近破坏前施加的实际测试电压作为被测线圈的破坏电压来显示（図4）

6.目测判定

保存的标准波形和样品波形可以简单的叠加显示，从而更能容易区分2个先前的特性差异。

技术参数